LED具有体积小，耗电量低、长寿命环保等优点，在实际生产研发过程中，需要通过寿命实验对LED芯片的可靠性水平进行评价，并通过质量反馈来提高LED芯片的可靠性水平，以保证LED芯片质量。博泰小编带大家了解关于芯片耐久寿命实验室相关知识。

  LED具有高可靠性和长寿命的优点，在实际生产研发过程中，需要通过寿命实验对LED芯片的可靠性水平进行评价，并通过质量反馈来提高LED芯片的可靠性水平，以保证LED芯片质量，为此在实现全色系LED产业化的同时，开发了LED芯片寿命实验的条件、方法、手段和装置等，以提高寿命实验的科学性和结果的准确性。

  寿命实验条件的确定

  电子产品在规定的工作及环境条件下，进行的工作实验称为寿命实验，又称耐久性实验。随着LED生产技术水平的提高，产品的寿命和可靠性大为改观，LED的理论寿命为10万小时，如果仍采用常规的正常额定应力下的寿命实验，很难对产品的寿命和可靠性做出较为客观的评价，而我们实验的主要目的是，通过寿命实验掌握LED芯片光输出衰减状况，进而推断其寿命。一般认为，实验周期为1000小时或以上的称为长期寿命实验。生产工艺稳定时，1000小时的寿命实验频次较低，5000小时的寿命实验频次可更低。

  过程与注意事项

  对于LED芯片寿命实验样本，可以采用芯片，一般称为裸晶，也可以采用经过封装后的器件。采用裸晶形式，外界应力较小，容易散热，因此光衰小、寿命长，与实际应用情况差距较大，虽然可通过加大电流来调整，但不如直接采用单灯器件形式直观。

  采用单灯器件形式进行寿命实验，造成器件的光衰老化的因素复杂，可能有芯片的因素，也有封装的因素。在实验过程中，采取多种措施，降低封装的因素的影响，对可能影响寿命实验结果准确性的细节，逐一进行改善，保证了寿命实验结果的客观性和准确性。

  样品抽取方式

  寿命实验只能采用抽样实验的评估办法，具有一定的风险性。产品质量具备一定程度的均匀性和稳定性是抽样评估的前提，只有认为产品质量是均匀的，抽样才具有代表性；

  由于实际产品质量上存在一定的离散性，我们采取分区随机抽样的办法，以提高寿命实验结果准确性。我们通过查找相关资料和进行大量的对比实验，提出了较为科学的样品抽取方式：对于不同器件寿命实验结果相差悬殊，甚至矛盾的情况，我们规定了加严寿命实验的办法，按正常条件进行寿命实验，只是数量加严，而不是实验条件加严；

  一般来说抽样数量越多，风险性越小，寿命实验结果的结果越准确，但是，抽样数量越多必然造成人力、物力和时间的浪费，实验成本上升。我们的目标是通过采取科学的抽样方法，在同一实验成本下，使风险性下降到最低。

  光电参数测实方法与器件配光曲线

  在LED寿命实验中，先对实验样品进行光电参数测实筛选，淘汰光电参数超规或异常的器件，合格者进行逐一编号并投入寿命实验，完成连续实验后进行复测，以获得寿命实验结果。为了使寿命实验结果客观、准确，除做好测实仪器的计量外，实验前后所采用的是同一台测实仪测实，以减少不必要的误差因素。

  树脂劣变对寿命实验的影响

  现有的环氧树脂封装材料受紫外线照射后透明度降低，是高分子材料的光老化，是紫外线和氧参与下的一系列复杂反应的结果，一般认为是光引发的自动氧化过程。树脂劣变对寿命实验结果的影响，主要体现1000小时或以上长期寿命实验，目前只能通过尽可能减少紫外线的照射，来提高寿命实验结果的果客观性和准确性。今后还可通过选择封装材料，或者检定出环氧树脂的光衰值，并将其从寿命实验中排除。

  封装工艺对寿命实验的影响

  封装工艺对寿命实验影响较大，虽然采用透明树脂封装，可用显微镜直接观察到内部固晶、键合等情况，以便进行失效分析，但是并不是所有的封装工艺缺陷都能观察到，例如：键合焊点质量与工艺条件是温度和压力关系密切，而温度过高、压力太大则会使芯片发生形变产生应力，从而引进位错，甚至出现暗裂，影响发光效率和寿命。

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